NanoLineaVision

Plateforme de métrologie et de caractérisation Lineavision®.
La plateforme de métrologie et de caractérisation personnalisable Lineavision® est conçue pour inspecter et mesurer avec la plus grande précision des zones étroites ou larges à l’échelle du laboratoire.
Le système offre une capacité de métrologie avancée pour des processus même complexes et est capable d’analyser des structures de surface monocouches et multicouches pour définir et évaluer la qualité et les étapes du processus.

La plateforme de métrologie et de caractérisation Lineavision® est parfaitement adaptée pour :

  • Métrologie optique pour produit monocouche et multicouche
  • Mouvement de haute précision dans les directions XY et Z
  • Mesures et analyses haute résolution
  • Logiciel de reconnaissance de formes
  • Comparaison PDF et auto-apprentissage des modèles